產品信息
特長
根據用途的各種檢測器的陣容
以次的機型MCPD-9800為首，擁有兩個系列，共達9個波長范圍的檢測器型號。
可配合客戶的需求與測量用途，選擇的檢測器。
測量項目與所對應的檢測器 | ◎處為 |
| MCPD-9800 | MCPD-6800 | ||
| 發光、熒光類 | 光源測量 | ◎ | ○ |
|---|---|---|---|
| 發光、熒光測量 | ◎ | ○ | |
| 反射、穿透類 | 反射特性測量 | ◎ | ◎ |
| 物體顏色測量 | ◎ | ◎ | |
| 膜厚測量 | ◎ | ◎ | |
| 吸收測量 | ◎ | ◎ | |
| 顯微分光測量 | ◎ | ○ | |
| 生產過程中 | 多點測量 | ◎ | ○ |
| 在線測量 | ◎ | ○ | |
具備了通用的USB端口，以及能滿足遠程遙控測量的LAN通信功能。便捷性和測量用途的范圍擴大。
通過標準配置的光纖，不再受到樣品形狀和大小的約束，從而能夠搭建更自由的光學系。另外，能更容易與顯微鏡、大型平臺等其他裝置進行組合，在所有領域都得以發揮其優異的性能。此外，它很容易與顯微鏡和大型載物臺等其他設備結合使用，因此在各個領域都表現出的性能。
可靠性
MCPD能滿足日本工業標準JIS z 8724（顏色的測量方法-光源色)中對分光測光器的所有精度要求，盡可放心使用。
在根據計量法制定的校正實驗室注冊制度（JCSS*1注冊制度）下，大琢電子的光計測實驗室被認定為屬于“光”注冊分類的國際MRA*2對應的JCSS校正實驗室。為了公平公正地評估照明器具和光源的性能，國內外都在推進光特性測量方法的規格化等各種各樣的標準化，這些標準化所要求的測光均以“光”的可追溯性為基本。本次認定后，大琢電子開啟了新的“光”校正事業，通過提供測光的可追溯性，努力為普及和發展節能環保的照明貢獻自己的力量。
定制訂單
我們擁有豐富的附屬配件、選配單元和分析軟件。
通過積累的技術和know-how，為客戶需求提供技術支持、有價值建議和“系統”。
MCPD-9800
MCPD-9800為瞬間多通道分光器MCPD系列的機型，與本公司以往的機型相比，實現了寬動態范圍、低雜散光功能、以及更高速、更高再現性。高精度紫外定量評估、量子效率測量、在線測量為首的所有高精度測光系統。分光測量的世界得到進一步擴展。
特長
具有寬動態范圍，于全光束測量。
搭載低雜散光功能，于UV評估和量子效率評估。與本公司舊機型相比，雜散光率只有五分之一。
最短5ms到65s*的曝光時間，于微弱光測量、高速測量、在線測量等廣泛的測量需求。
采用Scramble加擾光纖*2，實現高再現性。
輕量、緊湊的豎立式設計，與本公司以往舊機型相比，體積降低約60%!
*1 65s為選配*2916C機型除外
測量項目
發射光譜測量
透射/吸收光譜測量
反射光譜測量
熒光測量
物體顏色測量
光源顏色測量（色度、亮度、照度）
膜厚測量
等離子體發射光譜測量
規格
| 檢測器本體 | MCPD-9800 | ||||||||
| 2285C | 3095C | 3683C | 311C | 916C | |||||
| 測量波長范圍（nm） | 220-850 | 300-950 | 360-830 | 360-1100 | 900-1600 | ||||
| 分光器 | 平面場型 | ||||||||
| 測出粒子（ch） | 電子冷卻 CCD 圖像傳感器 | 電子冷卻
| |||||||
| 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | |
| 每單位粒子的波長寬幅（nm/粒子） | 1.4 | 0.7 | 1.4 | 0.7 | 1.0 | 0.5 | 1.6 | 0.8 | 1.9 |
| 光纖 | 石英纖維，底座 φ12 mm，長度約 2 m | 摻Ge 石英制纖維 長度約 2 m | |||||||
| 掃描時間 | 5ms-20s | 1ms-10s | |||||||
| 通訊接口 | USB 或 LAN | ||||||||
| 消耗電量、電源電壓 | 125VA，單相AC100-240V 50 / 60Hz | ||||||||
| 尺寸、重量 | 105 (W) x 230 (H) x 280 (D) mm，約 6 kg * | ||||||||
◎根據定制，由多個分光器組合，可對應寬波長范圍域測量式樣。
MCPD-6800
標準型系統采用電子冷卻型圖像二極管,實現高S/N。
輕量、緊湊的豎立式設計，與本公司以往舊機型相比，體積減少約60%。
特長
MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統。可以瞬間進行分光光譜的測量,也可以通過自由組合的光學系和豐富的配件，搭建各式各樣的測量系統。測量波長范圍有4款型號可選。測量項目
發射光譜測量
透射/吸收光譜測量
反射光譜測量
熒光測量
物體顏色測量
光源顏色測量（色度、亮度、照度）
膜厚測量
等離子體發射光譜測量
規格
設備配置
| 透過吸收測量系統 |
| 溶液特性測量系統 |
| 微小區域漫反射測量系統 |
| 膜厚測量系統 |
| 反射測量系統 |
| 物體顏色測量系統 |
| 發光、熒光測量系統 |
| 全光束測量系統 |
| 配光測量系統 |
| 顯微分光測量系統 |
| 多點測量點切換對應系統 |
| 導軌測量系統 |
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