Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于地質礦物樣品觀察，幫助分析礦物顆粒、巖石斷面和微觀結構。
Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優于 8 nm，適用于日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。
該產品具備大倉室樣品臺、低/中/高三種真空模式、背散射探測器，并可根據需求選配二次電子探測器和能譜探測器。具體配置和價格根據型號、功能及應用需求確定，可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議，并預約試樣。
產品特點：
1. 大倉室設計，可分析最大 100 x 100 mm 樣品。
2. 平均成像時間約 40 秒，適合多樣品觀察和日常檢測。
3. 電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優于 8 nm。
4. 采用 CeB6 燈絲，使用壽命優于 3000 小時。
5. 支持低、中、高三種真空模式，適合多類材料樣品。
6. 標配背散射探測器，可選配二次電子探測器和能譜探測器。
7. 臺式設計，適合實驗室日常部署與使用。
8. 支持選型咨詢，可預約試樣。
應用領域：
可用于地質礦物樣品觀察、巖石礦物顆粒分析、礦物形貌觀察、地質研究和高校實驗室。
技術參數：
產品型號：Phenom XL G3
產品全稱：XL 大倉室自動化電鏡
產品類型：大倉室臺式掃描電鏡
光學放大：3 - 19 X
電子光學放大：200,000 X
分辨率：優于 8 nm
電子槍：CeB6 燈絲，使用壽命優于 3000 小時
光學導航相機：彩色
平均成像時間：約 40 秒
最大樣品尺寸：100 x 100 mm
樣品承載：可同時容納 36 個樣品
加速電壓：基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
高級模式：4.8 kV - 20.5 kV 連續可調
真空模式：低 / 中 / 高三種模式
探測器：背散射探測器
可選探測器：二次電子探測器、能譜探測器
常見問題：
1. 這款設備適合哪些樣品？適合較大尺寸樣品、多樣品檢測以及常規材料形貌觀察。
2. 是否可以做元素分析？設備可根據需求選配能譜探測器，用于顆粒、異物或局部區域的元素分析。
3. 價格是多少？價格根據設備配置、探測器選項、應用需求和服務方案確定，可通過平臺詢價入口獲取選型建議，并預約試樣。
如需了解 Phenom XL G3 在地質礦物樣品中的配置方案、應用資料或報價信息，可通過平臺詢價/留言入口提交樣品類型與測試需求，獲取選型建議，并預約試樣。
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