高溫老化房
用途：針對于高性能電子產品（如：計算機整機、顯示器、終端機、電源供應器、PCBA板、監視器、交換式充電器、太陽能逆變器等）仿真出一種高溫、惡劣環境測試的設備，是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備，是各生產企業提高產品質量和競爭性的重要生產流程。該設備廣泛也廣泛應用于半導體集成電路、5G通訊、、食品加工、生物制藥等各類領域。
設備型號：HTS-LHF-A。
房體尺寸：
測試區尺：
房體全尺寸：6×5.5×3m（W×D×H）（以實體為準）。
測試范圍：
溫度范圍： RT+10℃～50℃（溫度可任意設定）。
升溫時間： 20℃～50℃ 30/min以內。
儀表解析精度：0.1℃。
儀表控制精度：
溫度精度：±1℃。
溫度波動度：
溫度波動度：≤±2℃。
溫度均勻度：≤±3℃。
二、結構及材質：
配電控制箱美觀、大方，位置設置合理，操作方便。
三、送風循環系統（2套），比傳統循環方式節約電能約30%。）
采用耐高溫高品質風道循環機組，以達強制對流垂直擴散循環。（耐高溫達150度）。
風路循環采用左右兩側出風下回風設計，風速、風壓皆符合試驗標準，且在開關門瞬間溫度回穩時間快。
3 優化的通風設計，強力送風循環，避免任何死角，可使房間內溫度分布均勻。
4 更節能，符合當前國際及國內環保要求。
5 更，歐式循環風路設計造就了超低噪音效果，設備正常運行進噪音≤65分貝，更好的保證良好的辦公環境及操作人員的工作環境。
6 極小的管內容積及超小體積，保證房間內明靜、大方、漂亮。
7 安裝、保養和維修方便。
8 高質量及合理的設計。
9 所有部件具有的可靠性。
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