JSFM-Ⅰ型實(shí)驗(yàn)室粉碎磨是一種無水分丟失的盤式實(shí)驗(yàn)粉碎磨，可碾磨谷物、豌豆、玉米、大豆和其它低脂肪含量的谷物。樣品在尖銳的磨盤間被切碎，收集在易取下的塑料樣品杯中。磨盤設(shè)計(jì)合理，碾磨快速、升溫很低，不會(huì)造成水分丟失。通常碾磨量為5-50克。谷物水分檢測(cè)碾磨量為10-15克。符合GB/T 21305-2007《谷物及谷物制品水分的測(cè)定 常規(guī)法》、ISO 712：1998《谷物及谷物產(chǎn)品水分含量測(cè)定法對(duì)粉碎設(shè)備的相關(guān)要求》，是一種磨盤式粉碎磨。樣品磨碎的粗細(xì)度決定于磨間的距離，磨盤間距可調(diào)，樣品在鋸齒形盤間被切碎，收集在塑料樣品杯中。
本該產(chǎn)品具有以下特點(diǎn)：
1、碾磨快速，粉碎過程設(shè)備沒有明顯發(fā)熱。
2、磨盤間距可調(diào)，滿足不同粉碎細(xì)度要求。
3、粉碎系統(tǒng)全密封，清理方便，不會(huì)造成樣品存留。
4、外形美觀、經(jīng)久耐用。
5、碾磨快速，不會(huì)造成樣品水分丟失等特點(diǎn)。
盤式實(shí)驗(yàn)粉碎磨產(chǎn)品參數(shù)：
磨盤直徑：Φ80㎜；
研磨能力：300g/min；
工作噪音：<68dB；
調(diào)節(jié)檔位：20檔；
磨碎樣品水分范圍：≤18%；
收集容器的容積：100g；
電源：220V 50HZ；
磨盤樣品磨碎的粗細(xì)度決定于磨盤的類型和磨盤間的距離。該粉碎磨磨盤間距有六個(gè)檔可調(diào)。
磨盤分三種類型，滿足不同要求。
I型-標(biāo)準(zhǔn)型
用于水分含量測(cè)量
II型-細(xì)型
用于測(cè)定顆粒度指數(shù)PSI或碾磨細(xì)樣品。
III型-粗型
用于測(cè)量燕麥和其它高水分樣品
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