瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計產品簡介：
探頭和沖擊體的使用壽命長，比市場上其他產品的使用壽命長四倍。
配備完整的探頭組合、廣泛的材料轉換表，包括Proceq自己的研究和世界上廣泛的標準轉換。
通過*的內置報告功能，以及可定制的視圖、多個向導和材料選擇助手，隨時可用的報告。
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計產品應用：
鑄件、法蘭、軸和棒材
管材的硬度測試
近線質量控制
熱處理表面
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb便攜式硬度計技術參數：
| 傳感器/儀表 | |
| PC軟件 | Equotip Link允許直接報告和自定義報告 |
| 內存 | 內部8GB閃存（>1000000次測量） |
| 顯示 | 帶雙核處理器的7"彩色堅固觸摸屏單元（800×480像素） |
| 本機規模 | HLx（x：D、DC、DL、S、E、G、C） |
| 可用刻度 | HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA(σ1，σ2，σ3) |
| 可用探頭 | Leeb D/DC/DL/S/E/G/C |
| 與其他方法結合 | Portable Rockwell，UCI |
| 最小非耦合試樣質量(kg/lbs) | 15/33(Leeb G) 5/11(Leeb D，DC，DL，E，S) 1.5/3.3(Leeb C) |
| 最小耦合試樣質量(kg/lbs) | 0.5/1.1(Leeb G) 0.05/0.2(Leeb D，DC，DL，E，S) 0.02/0.045(Leeb C) |
| 最小非耦合試樣厚度（mm/inch） | 70/2.73(Leeb G) 25/0.98(Leeb D，DC，DL，E，S) 15/0.59(Leeb C) |
| 最小耦合試樣厚度（mm/inch） | 10/0.4(Leeb G) 3/0.12(Leeb D，DC，DL，E，S) 1/0.04(Leeb C) |
| 儀器固件 | 沖擊方向自動補償 個性化用戶配置文件和視圖 集成在自動化測試環境中（包括遠程控制） 支持11種語言和時區 測量向導 自定義曲線向導 組合方法向導 用戶指南功能 自定義報表功能 |
| 自定義轉換曲線 | 支持單點偏移，2點偏移及多點偏移 |
| 連接 | USB主機/設備和以太網 |
| 根據 | ISO 16859、ASTM A 956、自定義方法、組合方法 |
| 測量范圍 | 150-950HL |
| 防護等級 | IP54，堅固，帶有減震外殼 |
| 測量精度 | ±4HL(0.5% at 800HL) |
| 變異系數 | ±4HL(0.5% at 800HL) |
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