半導體分立器件測試儀

半導體分立器件測試儀認準普賽斯儀表，國產自主研發，廠家Z銷！性價比高，測試范圍更廣，輸出電壓高達300V，支持USB存儲，一鍵導出報告，符合大環境下國內技術自給的需求，可及時與客戶溝通，為客戶提供高性價比系統解決方案，及時指導客戶編程，加速測試系統開發

產品特點
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作

內置*的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準確度為0.1%，分辨率5位半

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網

普賽斯半導體分立器件測試儀優勢：

同時精確提供和測量電壓和/或電流；

      同步測量，減少測試時間

提供和測量非常廣的電流和電壓；

      電壓可達300mV-300V,電流達100nA-1A

支持運行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產測試速度；

      序列測試，簡化操作，降低成本

采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經驗是否豐富，使用起來都非常簡便；

      觸屏操作

 
與傳統電源比：

電源過零需要改變線連接方式；

    增加需反復開關機械開關，降低了設備可靠性

電壓電流限制精度有限；

電壓1%，電流10mA

與電源結合萬用表組合比：

萬用表電源組合需要編程實現設備控制及同步；

    復雜連線、編程開發

電源限壓限流性能差

     限壓限流精度低，瞬態特性也無法保證