Name: JJF1256-2010 X射線單晶體定向儀 校準晶體
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JJF1256-2010X射線單晶體定向儀校準規(guī)范貨號AUBAT-1256X校準晶體材料為SiO2，(石英)，衍射晶面為1011面

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JJF1256-2010 X射線單晶體定向儀校準規(guī)范
貨號AUBAT-1256X
校準晶體
材料為 SiO2，(石英)，衍射晶面為 1011 面。銅靶X射線管，特征譜線Kα輻射，衍射角為 13°20'。晶面 (1011) 與 A、B 面角度誤差 (四點平均值) 不超出士5"，是被測量晶體晶面角度誤差的 1/3。

本校準規(guī)范適用于銅靶實際焦點 (1X4) mm X 射線管的單晶體和加單色器雙晶體X 射線定向儀的校準。定向儀是對單晶體各晶面在空間相互排列角度進行精密測定的一種檢測儀器主要由測角儀、X 射線發(fā)生器和探測放大記錄儀三部分組成。所謂雙晶體定向儀是用單晶體衍射線 (單色器) 取代狹縫透過射線的一種定向儀。

計量性能要求
1 空氣比釋動能率
低于初始劑量的 80%，X 射線管壽命到期。
2 測角儀樣品軸轉角示值誤差
2.1 相鄰 5°樣品軸轉角示值誤差不大于 10"(**值)。
2.2 在樣品軸旋轉范圍內(nèi)轉角示值誤差不大于 30"(**值)。
3 綜合誤差
單晶體定向儀綜合誤差士2'
雙晶體定向儀綜合誤差士30"
4漏散射線空氣比釋動能率
在額定工作條件下，距X 射線管焦點 100 mm 處，散漏射線空氣比釋動能率≦1.74X10-3 cGy/h。
注: cGv/h 是比釋動能率劑量單位
5測量重復性≤2%

校準方法：
綜合誤差
校準過程按如下步驟進行 :
步驟一: 將定向儀調(diào)到正常工作狀態(tài)，裝上 4'狹縫 (雙晶體定向儀不加狹縫)。把SiO2，(石英) 標準晶體裝在樣品架上，在額定管電壓 30 kV、管電流 1 mA 條件下，調(diào)整樣品架轉角，使微安表示值*大，調(diào)整計數(shù)率儀，使微安表的示值不小干滿刻度的 95%;起始為滿刻度 10%。設置角度示值為 13°20’(銅靶 X 射線管，SiO2，(1011)晶面 K.衍射角)。
步驟二: 在微安表上分別記錄下 I2(峰值) 和 I1 (本底) 的示值。I2 -I1=峰高值，半峰高為峰高值的一半。
步驟三: 使角度指示值恢復到 13°20 (I)，順時針轉動測角儀手輪使微安表指示值下降到峰高一半，此時角度指示值。再逆時針轉動測角儀手輪，使微安表的指示值再次下降到峰高的一半，此時角度指示值。計算定向儀綜合誤差。

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