JJG21-2008千分尺檢定規程
貨號AUBAT-21Q
鋼球檢具
檢定兩測量面的平行度；
JJG21-2008千分尺檢定規程適用于分度值為 0.0 mm，測量上限至 500 mm 的外徑千分尺;測量上限至25 mm 的板厚、壁厚千分尺; 以及分辨力為 0.001 mm，0.000 1 mm，測量上限至500 mm的數顯外徑千分尺的檢定檢驗。千分尺是由尺架、測砧、測微螺桿，測力裝置、鎖緊裝置和讀數裝置等組成。
計量性能要求
1測微螺桿的軸向串動和徑向擺動測微螺桿的軸向串動和徑向擺動均不大于 0.01 mm。
2 測力
千分尺的測力 (系指測量面與球面接觸時所作用的力) 應為(5~10)N
3 刻線寬度及寬度差
微分筒刻線寬度為(0.08~0.20)mm，固定套管上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差均應不大于 0.03 mm。帶刻度盤的刻線寬度為(0.20~0.30)mm，其寬度差應不大于0.05 mm.
4 指針與刻度盤的相對位置板厚千分尺刻度盤上的指針末端應蓋住刻線盤短刻線長度的 30%~80%，指針末端上表面至刻線度盤表面的距離應不大于 0.7 mm。指針末端與刻度盤刻線的寬度應一致，差值應不大于 0.05 mm。
5微分簡錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離微分筒錐面棱邊至固定套管刻線表面的距離應不大于 0.4 mm。
6 微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置
當測量下限調整正確后，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對準時，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應相切，若不相切，壓線不大于 0.05 mm，離線不大于0.1 mm .
7測量面的平面度
外徑千分尺測量面的平面度應不大于 0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺測量面的平面度應不大于 1.5μm。數顯外徑千分尺測量面平面度應不大于 0.3μm。
8 數顯外徑千分尺的示值重復性數顯外徑千分尺的示值重復性應不大于 1μm。
9 數顯外徑千分尺任意位置時數值漂移在任意位置時的數值漂移應不大于 1μm /h。
10 示值誤差
壁厚千分尺、板厚千分尺示值的*大允許誤差應不超過±8μm。
對于測量上限大于 150 mm 的千分尺可只檢測微頭示值誤差，測微頭各點相對于零點的示值*大允許誤差不超過±3μm。
11 數顯外徑千分尺細分誤差
數顯外徑千分尺數顯裝置的細分誤差應不超過±2μm。
檢定方法：
兩測量面的平行度
測量上限至 100 mm 千分尺兩測量面的平行度用 4 塊厚度差為 1/4 測微距的平行平晶檢定。也可用量塊檢定，數顯千分尺用 4 等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用 5等量塊檢定。測量上限大于 100 mm 的千分尺兩測量面的平行度用圖 10 鋼球檢具檢定兩測量面的平行度也可用其他相應準確度的儀器檢定。使用平行平品檢定時，依次將 4 塊厚度差為 1/4 螺距的平行平品放入兩測量面間使兩測量面與平行平晶接觸，轉動棘輪機構，并輕輕轉動平晶，使兩測量面出現的干涉環或干涉帶數目減至*少。分別讀取兩測量面上的干涉條紋數，取兩測量面上的干涉條紋數目之和與所用光的波長值的計算結果作為兩測量面的平行度。利用平行平晶組中每塊平行平晶按上述程序分別進行檢定，取其中*大值作為受檢千分尺的兩測量面平行度測量結
貨號AUBAT-21Q
鋼球檢具
檢定兩測量面的平行度；
JJG21-2008千分尺檢定規程適用于分度值為 0.0 mm，測量上限至 500 mm 的外徑千分尺;測量上限至25 mm 的板厚、壁厚千分尺; 以及分辨力為 0.001 mm，0.000 1 mm，測量上限至500 mm的數顯外徑千分尺的檢定檢驗。千分尺是由尺架、測砧、測微螺桿，測力裝置、鎖緊裝置和讀數裝置等組成。
計量性能要求
1測微螺桿的軸向串動和徑向擺動測微螺桿的軸向串動和徑向擺動均不大于 0.01 mm。
2 測力
千分尺的測力 (系指測量面與球面接觸時所作用的力) 應為(5~10)N
3 刻線寬度及寬度差
微分筒刻線寬度為(0.08~0.20)mm，固定套管上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差均應不大于 0.03 mm。帶刻度盤的刻線寬度為(0.20~0.30)mm，其寬度差應不大于0.05 mm.
4 指針與刻度盤的相對位置板厚千分尺刻度盤上的指針末端應蓋住刻線盤短刻線長度的 30%~80%，指針末端上表面至刻線度盤表面的距離應不大于 0.7 mm。指針末端與刻度盤刻線的寬度應一致，差值應不大于 0.05 mm。
5微分簡錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離微分筒錐面棱邊至固定套管刻線表面的距離應不大于 0.4 mm。
6 微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置
當測量下限調整正確后，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對準時，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應相切，若不相切，壓線不大于 0.05 mm，離線不大于0.1 mm .
7測量面的平面度
外徑千分尺測量面的平面度應不大于 0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺測量面的平面度應不大于 1.5μm。數顯外徑千分尺測量面平面度應不大于 0.3μm。
8 數顯外徑千分尺的示值重復性數顯外徑千分尺的示值重復性應不大于 1μm。
9 數顯外徑千分尺任意位置時數值漂移在任意位置時的數值漂移應不大于 1μm /h。
10 示值誤差
壁厚千分尺、板厚千分尺示值的*大允許誤差應不超過±8μm。
對于測量上限大于 150 mm 的千分尺可只檢測微頭示值誤差，測微頭各點相對于零點的示值*大允許誤差不超過±3μm。
11 數顯外徑千分尺細分誤差
數顯外徑千分尺數顯裝置的細分誤差應不超過±2μm。
檢定方法：
兩測量面的平行度
測量上限至 100 mm 千分尺兩測量面的平行度用 4 塊厚度差為 1/4 測微距的平行平晶檢定。也可用量塊檢定，數顯千分尺用 4 等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用 5等量塊檢定。測量上限大于 100 mm 的千分尺兩測量面的平行度用圖 10 鋼球檢具檢定兩測量面的平行度也可用其他相應準確度的儀器檢定。使用平行平品檢定時，依次將 4 塊厚度差為 1/4 螺距的平行平品放入兩測量面間使兩測量面與平行平晶接觸，轉動棘輪機構，并輕輕轉動平晶，使兩測量面出現的干涉環或干涉帶數目減至*少。分別讀取兩測量面上的干涉條紋數，取兩測量面上的干涉條紋數目之和與所用光的波長值的計算結果作為兩測量面的平行度。利用平行平晶組中每塊平行平晶按上述程序分別進行檢定，取其中*大值作為受檢千分尺的兩測量面平行度測量結
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